Focused Ion Beam Systeme
Focused Ion Beam Systeme

Anwendung und Einsatzbereiche

Wie auch bei den höchstauflösenden Rasterelektronenmikroskopen von JEOL gehen Sie auch bei FIB-Systemen keine Kompromisse zwischen Höchstauflösung und Analytik ein: Von der Defektanalyse in der Halbleiterindustrie über die Lamellenpräparation für die Transmissionselektronenmikroskopie bis hin zur 3D-Rekonstruktion biologischer Proben unter Kryo-Bedingungen – Robuste FIB-Systeme von JEOL unterstützen Sie bei sämtlichen präparativen und analytischen Fragestellungen.

Lösungen

  • Ultra-schnelle Analytik und Rekonstruktion durch hohe Elektronen- und Ionenströme
  • Präzise und stabile 3D-Analytik mittels EDS und EBSD ohne Probenrotation
  • Komfortable Transferlösungen zu JEOL Elektronenmikroskopen
  • Integrierte Lösungen für korrelative Mikroskopie

Detaillösungen

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