Anwendung und Einsatzbereiche

Li-Batterien werden unter anderem in Mobiltelefonen oder Kraftfahrzeugen verwendet. Der Nachweis in einem Mikroskop ist dank des neu entwickelten Leichtelementspektrometers von JEOL erstmals routine- und serienmäßig mit hoher räumlicher Auflösung und Nachweisempfindlichkeit möglich.

Identifizierung von Lithium in einer Li-Ionen-Batterie

Bildquelle: JEOL Ltd., SXES-Broschüre

Für das Verständnis geologischer Prozesse sind hochaufgelöste Elementverteilungen von zentraler Bedeutung. Über Jahrzehnte hinweg haben sich JEOL Elektronenstrahlmikrosonden als perfekte Werkzeuge erwiesen um Diffusionsprofile und die räumliche Verteilung von Spurenelementen zuverlässig und automatisiert zu untersuchen. Die Nachweisgrenze bei dieser zerstörungsfreien Methode liegt bei bis zu weniger als 20 ppm.

Elementverteilungsbilder einer Gesteinsprobe

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH, Geoforschungszentrum Potsdam

Der Nachweis von Seltenen Erden ist nicht nur in mineralogischen Proben von Interesse, sondern gewinnt durch die fortlaufende Entwicklung von Hochleistungsmikroelektronik  immer mehr an Bedeutung. Für den Nachweis der zumeist niedrigkonzentrierten Elemente setzt JEOL seit Jahrzehnten den Maßstab für energetisch und räumlich höchstauflösende Spurenelementanalytik.

Seltene Erden als Beispiel für Spurenelementanalytik

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH, Demoreport Uni. Wien (JXA)

Mineralien sind häufig als komplexe Strukturen aus einer Vielzahl von Elementen aufgebaut. Zur ortsaufgelösten Visualisierung der chemischen Zusammensetzung stellen Elementverteilungsbilder eine der wichtigsten Methoden dar. Mit Hilfe dieser Verteilungsbilder werden essentielle Informationen wie z.B. die Entstehung und die Struktur der zu untersuchenden Probe gewonnen. Für diese Aufgabe liefert JEOL die stabilsten sowie energetisch und räumlich höchstauflösenden Spektroskopie-Systeme.

Elementverteilungsbilder eines Symplektit-Schliffes

Bildquelle: JEOL (Germany) GmbH, Demoreport Uni. Wien (JXA)