Rasterelektronenmikroskope (REM)

JEOL JSM-IT800 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

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JEOL JSM-IT800 Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop

Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen.

Damit deckt das JSM-IT800 gleichermaßen einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht den einfachen Einstieg in die Welt der höchstauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.

Merkmale

  • Höchstauflösende Bildgebung und Analyse selbst bei magnetischen oder isolierenden Materialien durch Einsatz einer Hybrid-Objektivlinse (HL) oder Super-Hybrid-Objektivlinse (SHL).
  • Probenstrom ≥ 300 nA (SHL ≥ 500 nA): für extrem schnelle Analytik.
  • In-lens Schottky Plus Feldemissions-Elektronenquelle und Doppel-Kondensorlinsen-System bieten höchste Stabilität und einen kontinuierlich regelbaren Strom.
  • Die neue NeoEngine und verbesserte Autofunktionen ermöglichen schnelle Übergänge zwischen unterschiedlichen Betriebszuständen.
  • JEOL ZeroMag-Funktion für stufenlosen Übergang zwischen lichtoptischer und REM-Abbildung für einfachste Probennavigation.
  • Neue Rückstreuelektronendetektoren ermöglichen die maßgeschneiderte, applikationsoptimierte Konfiguration des Systems, bspw. mit einem flexiblen 6-Segment-Detektor oder einem hochempfindlichen Szintillator-Detektor.
  • Einzigartige Linsenoptik für extreme Schärfentiefe und verzerrungsfreie Abbildung großer Probenstukturen.
  • Vollständige Integration des JEOL-EDX-Systems inkl. Live-EDX für maximalen Bedienkomfort und intuitive Berichterstellung aller aufgenommenen Messdaten.
  • Für die Untersuchung nicht-leitfähiger Materialien steht ein flexibles Niedervakuumsystem auf Knopfdruck zur Verfügung.
  • Durch die optionale Probenschleuse können selbst große Proben schnell und sicher gewechselt werden.
  • Das JSM-IT800 kann mit zahlreichen Analysesystemen ausgestattet werden, darunter EDX, WDX, CL und weitere Detektoren.
  • Das neue JEOL-Leichtelementspektrometer SXES kann leichte Elemente ab Lithium selbst in niedrigsten Konzentrationen nachweisen und ist gleichermaßen für die hochaufgelöste Analyse chemischer Bindungszustände geeignet.

Spezifikationen


HL-Konfi­guration

SHL-Konfi­guration

Auflösung

0,7 nm (Be­schleu­nigungs­spannung 20 kV)
1,3 nm (Be­schleu­nigungs­spannung 1 kV)
Analytik: 3,0 nm (Be­schleu­nigungs­spannung 15 kV, WD 10 mm, Probenstrom 5 nA)

0,5 nm (Be­schleu­nigungs­spannung 15 kV)
0,7 nm (Be­schleu­nigungs­spannung 1 kV)
Analytik: 3,0 nm (Beschleu­nigungs­spannung 5 kV, WD 10 mm, Probenstrom 5 nA)

Vergröße­rung

×10 bis 1.000.000 (Referenz: Polaroid)

×10 bis 2.000.000 (Referenz: Polaroid)

Beschleu­nigungs­spannung

0,01 bis 30 kV

0,01 bis 30 kV

Proben­strom

wenige pA bis ≥ 300 nA

wenige pA bis ≥ 500 nA

Elektronen­quelle

In-lens Schottky-Feld­emissions­quelle

In-lens Schottky-Feld­emissions­quelle

Proben­bühne

Voll-motorisierte, euzentrische Probenbühne

Voll-motorisierte, euzentrische Probenbühne

Proben­schleuse

Große Schleuse mit patentiertem One-Action-System verfügbar

Große Schleuse mit patentiertem One-Action-System verfügbar

Detektor­system

In-Lens-Detektor mit integriertem Filter, Everhart-Thornley-Detektor, opt. rückziehbarer Rück­streu­elektronen-Detektoren, STEM-Detektoren und weitere

In-Lens-Detektor, Everhart-Thornley-Detektor, opt. gefilterte In-Lens-Abbildung, rückziehbare Rück­streu­elektronen-Detektoren, STEM-Detektoren und weitere

Bitte beachten Sie:

Technische Änderungen und Irrtümer vorbehalten. Alle im Text aufgeführten Markennamen sind eingetragene Warenzeichen der Hersteller.

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