Das neue Feldemissions-Rasterelektronenmikroskop JSM-IT800 vereint in einzigartiger Weise höchste Auflösung mit intuitivem Handling. Dank der neuen graphischen Nutzeroberfläche war es noch nie so einfach, licht-optische Aufnahmen, REM-Abbildungen und die Elementcharakterisierung mittels EDX in einem einheitlichen Arbeitsablauf und einem gemeinsamen Bericht zu vereinen. Mit der patentierten In-Lens Emitter-Technologie erreicht das Mikroskop selbst bei niedrigen Beschleunigungsspannungen eine hohe Auflösung und eignet sich dank des hohen Probenstromes zugleich für sämtliche analytischen Fragestellungen.
Damit deckt das JSM-IT800 gleichermaßen einen breiten Anwendungsbereich ab und ermöglicht den einfachen Einstieg in die Welt der höchstauflösenden Feldemissions-Rasterelektronenmikroskopie.
HL-Konfiguration | SHL-Konfiguration | |
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Auflösung |
0,7 nm (Beschleunigungsspannung 20 kV) | 0,5 nm (Beschleunigungsspannung 15 kV) |
Vergrößerung |
×10 bis 1.000.000 (Referenz: Polaroid) | ×10 bis 2.000.000 (Referenz: Polaroid) |
Beschleunigungsspannung |
0,01 bis 30 kV | 0,01 bis 30 kV |
Probenstrom | wenige pA bis ≥ 300 nA | wenige pA bis ≥ 500 nA |
Elektronenquelle | In-lens Schottky-Feldemissionsquelle | In-lens Schottky-Feldemissionsquelle |
Probenbühne | Voll-motorisierte, euzentrische Probenbühne | Voll-motorisierte, euzentrische Probenbühne |
Probenschleuse | Große Schleuse mit patentiertem One-Action-System verfügbar | Große Schleuse mit patentiertem One-Action-System verfügbar |
Detektorsystem | In-Lens-Detektor mit integriertem Filter, Everhart-Thornley-Detektor, opt. rückziehbarer Rückstreuelektronen-Detektoren, STEM-Detektoren und weitere | In-Lens-Detektor, Everhart-Thornley-Detektor, opt. gefilterte In-Lens-Abbildung, rückziehbare Rückstreuelektronen-Detektoren, STEM-Detektoren und weitere |
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